干涉法線脹系數測定儀 線脹系數測定儀 型號：YJ-GXP-Ⅱ
產品詳細內容：
1.實驗內容: (1)利用光的干涉測定線脹系數;(2) 邁克爾遜干涉儀的調整與使用.
2.雙導軌、雙動鏡、平臺式
3.半導體激光器：波長625nm
4.溫控范圍：50-120℃
5.恒溫穩定度：±0.1℃
6.測溫范圍：-50-125℃, 三位半數顯，精度：±0.1℃
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